簡要描述:x熒光光譜檢測(ce)(ce)儀(yi)探測(ce)(ce)器:原裝美國Amptek硅漂移SDD探頭,分(fen)辨率低至129eV±5eV,能量(liang)線性和(he)(he)能量(liang)分(fen)辨率俱佳,高峰背比。信(xin)號(hao)處理器:采用進口(kou)信(xin)號(hao)處理器,適應(ying)高分(fen)辨率和(he)(he)高計(ji)數率,自調(diao)放大倍數,道數:4096。
詳細介紹
x熒光光譜檢測儀核心優勢:
核心部件整套進口(kou)
1. 高壓(ya)(ya)電源:功率50 W、電壓(ya)(ya)0 -50 KV、電流0-1000uA。8小時穩(wen)定性≤0.05%。
2. X射線(xian)(xian)管:功(gong)率50W、管電(dian)(dian)壓5-50KV 、管電(dian)(dian)流0-1000uA;長壽命X射線(xian)(xian)管。
3. 探(tan)測(ce)器(qi):原裝美國(guo)Amptek硅漂移SDD探(tan)頭,分(fen)辨率低至129eV±5eV,能量線(xian)性和能量分(fen)辨率俱佳(jia),高峰背比。
4. 信號處理器:采用(yong)進口信號處理器,適應高分辨率和高計數(shu)(shu)率,自調放大(da)倍(bei)數(shu)(shu),道數(shu)(shu): 4096。
美國丹納赫和我司共同(tong)研發的X熒(ying)光分析軟件中文版(ban),該軟件融(rong)合經驗系(xi)(xi)數法(fa)、理論α系(xi)(xi)數法(fa)、線(xian)(xian)性(xing)擬合、二次曲線(xian)(xian)、強(qiang)度校(xiao)正、含(han)量校(xiao)正等多種分析方法(fa),全面保(bao)證測試數據(ju)的準(zhun)確性(xing)。
x熒光光譜檢測儀儀器配置:
系統標配 | 1. 數字多道型SDD探測器 2. X射線(xian)源 3. 高壓電源(yuan) 4. 性噪(zao)比電子線(xian)路(lu)系統 5. 光路增強系(xi)統(tong) 6. 8準直+5濾光片 7. 數字多道分(fen)析器 8. 抽真空系統 9. 品牌噴墨打(da)印機 10. 品牌計(ji)算機 11. X熒(ying)光(guang)全元素(su)分(fen)析軟件 12. 樣品杯、保險絲 13. 光(guang)譜專用穩壓(ya)電(dian)源(選配) |
系(xi)統選配 | 1. 光譜專用(yong)研磨機(ji)(選配(pei)) 2. 光譜專用(yong)熔樣機(選配) 3. 光譜專用制粉(fen)機(ji)(選(xuan)配) 4. 熔樣(yang)鉑金(jin)坩(gan)堝(選配) 5. 光譜儀專用壓片機(ji)(選(xuan)配) |
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