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x熒光光譜檢測儀

簡要描述:x熒光光譜檢測(ce)(ce)儀(yi)探測(ce)(ce)器:原裝美國Amptek硅漂移SDD探頭,分(fen)辨率低至129eV±5eV,能量(liang)線性和(he)(he)能量(liang)分(fen)辨率俱佳,高峰背比。信(xin)號(hao)處理器:采用進口(kou)信(xin)號(hao)處理器,適應(ying)高分(fen)辨率和(he)(he)高計(ji)數率,自調(diao)放大倍數,道數:4096。

  • 產品型號:A-550
  • 廠商(shang)性質:生產廠家
  • 更新時間(jian):2024-01-25
  • 訪(fang)  問  量: 3656

詳細介紹

 x熒光光譜檢測儀核心優勢:

核心部件整套進口(kou)

1. 高壓(ya)(ya)電源:功率50 W、電壓(ya)(ya)0 -50 KV、電流0-1000uA。8小時穩(wen)定性≤0.05%。

2. X射線(xian)(xian)管:功(gong)率50W、管電(dian)(dian)壓5-50KV 、管電(dian)(dian)流0-1000uA;長壽命X射線(xian)(xian)管。

3. 探(tan)測(ce)器(qi):原裝美國(guo)Amptek硅漂移SDD探(tan)頭,分(fen)辨率低至129eV±5eV,能量線(xian)性和能量分(fen)辨率俱佳(jia),高峰背比。

4. 信號處理器:采用(yong)進口信號處理器,適應高分辨率和高計數(shu)(shu)率,自調放大(da)倍(bei)數(shu)(shu),道數(shu)(shu): 4096。

美國丹納赫和我司共同(tong)研發的X熒(ying)光分析軟件中文版(ban),該軟件融(rong)合經驗系(xi)(xi)數法(fa)、理論α系(xi)(xi)數法(fa)、線(xian)(xian)性(xing)擬合、二次曲線(xian)(xian)、強(qiang)度校(xiao)正、含(han)量校(xiao)正等多種分析方法(fa),全面保(bao)證測試數據(ju)的準(zhun)確性(xing)。

 x熒光光譜檢測儀儀器配置:

系統標配

1. 數字多道型SDD探測器

2. X射線(xian)源

3. 高壓電源(yuan)

4. 性噪(zao)比電子線(xian)路(lu)系統

5. 光路增強系(xi)統(tong)

6. 8準直+5濾光片

7. 數字多道分(fen)析器

8. 抽真空系統

9. 品牌噴墨打(da)印機

10. 品牌計(ji)算機

11. X熒(ying)光(guang)全元素(su)分(fen)析軟件

12. 樣品杯、保險絲

13. 光(guang)譜專用穩壓(ya)電(dian)源(選配)

系(xi)統選配

1. 光譜專用(yong)研磨機(ji)(選配(pei))

2. 光譜專用(yong)熔樣機(選配)

3. 光譜專用制粉(fen)機(ji)(選(xuan)配)

4. 熔樣(yang)鉑金(jin)坩(gan)堝(選配)

5. 光譜儀專用壓片機(ji)(選(xuan)配)

   性能優勢:
  下照式:可滿足各種形狀樣品的測試需求
  準直器和濾光片:多種準直器和濾光片的電動切換,滿足各種測試方式的應用
  移動平臺:精細的手動移動平臺,方便定位測試點
  高分辨率探測器:提高分析的準確性
  新一代的高壓電源和X光管:性能穩定可靠,實現更高的測試效率

     應用領域:
  固廢快速檢測
  地礦與合金(銅、不銹鋼等)成分分析
  金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定
  黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測
  主要用于固廢行業、貴金屬加工和首飾加工行業:首飾銷售和檢測機構;電鍍行業

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